R&S®HZ-15 EMC 近場探棒組
EMC 近場探棒組（30 MHz – 3 GHz，含磁場與電場探棒）
- 類別: 示波器探針
- 製造商: Rohde & Schwarz
- 頻率範圍（探棒組）: 30 MHz – 3 GHz
- 探棒類型: 2 支被動式電場（E 場）探棒 + 3 支被動式磁場（H 場）探棒
- H 場探棒特性: 電氣屏蔽磁場探棒，被動式（無需供電）
- E 場探棒特性: 被動式電場探棒，適用近場量測
- 磁場天線因子（H 場，30 MHz 典型值）: 50 dB [(µA/m)/µV]
- 磁場天線因子（H 場，100 MHz 典型值）: 40 dB [(µA/m)/µV]
- 磁場天線因子（H 場，500 MHz 典型值）: 28 dB [(µA/m)/µV]
- 磁場天線因子（H 場，1000 MHz 典型值）: 23 dB [(µA/m)/µV]
- 前置放大器增益（選配 HZ-16）: 20 dB（典型值，100 kHz – 3 GHz）
- 前置放大器頻率範圍（HZ-16）: 100 kHz – 3 GHz
- 前置放大器 1 dB 壓縮點: +8 dBm（典型值）
- 前置放大器最大輸入電平: +10 dBm
- 空間解析度: 高空間解析度（探棒尖端適用近場量測）
- EMI 免疫測試功能: H 場探棒為雙向設計，可施加訊號進行局部免疫測試
- 資料表: 下載 PDF
- 產品手冊: 下載 PDF
- 外部連結: 官方產品頁面
產品概覽
R&S®HZ-15 EMC 近場探棒組專為示波器設計，提供 E 場與 H 場近場量測功能，頻率涵蓋範圍 30 MHz 至 3 GHz。探棒組包含 2 支被動式電場探棒與 3 支電氣屏蔽被動式磁場探棒，可直接連接示波器、頻譜分析儀或測量接收器。可選配 R&S®HZ-16 前置放大器（增益 20 dB），大幅提升微弱訊號的量測靈敏度。特殊電氣屏蔽設計有效抑制 E 場對 H 場量測的干擾，探棒尖端針對近場量測優化，具備高空間解析度，適合精確定位 EMI 問題來源。被動式 H 場探棒為雙向設計，亦可施加訊號進行局部免疫測試。
主要特點
- 寬頻量測範圍：30 MHz 至 3 GHz，涵蓋常見 EMI 問題頻段
- 完整探棒組合：2 支 E 場探棒 + 3 支 H 場探棒（不同尺寸），滿足各種量測需求
- 電氣屏蔽磁場探棒：有效抑制電場耦合干擾，確保磁場量測精確性
- 高空間解析度：探棒尖端針對近場量測優化，精確定位干擾源
- 雙向 H 場探棒：可施加訊號進行局部免疫測試（局部電流感應）
- 操作簡便：輕鬆連接示波器、頻譜分析儀及測量接收器
- 可選配 HZ-16 前置放大器：20 dB 增益（100 kHz – 3 GHz），提升微弱訊號偵測能力，1 dB 壓縮點 +8 dBm
- 相容性廣泛：HZ-16 可與 R&S®HZ-15 及 R&S®HZ-17 探棒組配合使用
典型應用
- EMI 除錯與干擾源定位：在電路板設計階段快速找出輻射干擾熱點
- 近場電磁場掃描：量測 PCB 局部 E 場與 H 場分布，分析訊號完整性問題
- 電磁相容性（EMC）預測試：在正式認證測試前進行快速除錯，縮短開發時程
- 局部免疫測試：利用雙向 H 場探棒對電路特定區域施加干擾訊號，評估抗干擾能力
- 與 R&S 示波器整合應用：配合 R&S RTM3000、RTA4000、RTO2000 等示波器進行時域 EMI 分析
- 與頻譜分析儀及 EMI 測量接收器配合使用（如 R&S FPC、FSH、ESR、ESRP、ESW）
可用機型 ／ 型號變體
本系列提供以下 3 個型號變體。點擊「詢價」即可向均迪康索取對應機型的完整規格與報價。
| 機型代號 | 規格差異 | |
|---|---|---|
| R&S®HZ-15 (1147.2736.02) | 完整 EMC 近場探棒組，含 2 支被動式 E 場探棒及 3 支被動式 H 場探棒（電氣屏蔽），頻率範圍 30 MHz – 3 GHz。可選配 R&S®HZ-16 前置放大器。 | 詢價 → |
| R&S®HZ-16 (1147.2720.02) | 磁場探棒前置放大器，頻率範圍 100 kHz – 3 GHz，增益 20 dB。適用於 R&S®HZ-15 及 R&S®HZ-17 探棒組，提升微弱訊號量測靈敏度。 | 詢價 → |
| R&S®HZ-17 (1339.4141.02) | H 場近場探棒組，含 2 支被動式磁場探棒，頻率範圍 30 MHz – 3 GHz。適用於純磁場量測應用，可選配 R&S®HZ-16 前置放大器。 | 詢價 → |
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